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Device Reliability of Advanced CMOS Technologies Flash Memory Technology Characterization of MOS Capacitor · and MOSFET with I-V · Generation and Recombination lifetime · and C-f Dependence Generation and Recombination Lifetime Measurement of Epi Wafers and Denuded Wafers Gate Oxide Integrity (GOI) Characterization Detection of Impurities (Fe, Cu ,Pt, Au, Cr ..etc) by DLTS Silvaco Simulation for extracting spice model parameter Display Device (OLED, Thin Film Device on Flexible/Glass Substrate) Low Temperature Poly Silicon TFTs
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| 연구실 | 대학 | 주요 주제 | 구성원 | 비교 |
|---|---|---|---|---|
반도체 소자 연구실신형철 교수 | 서울대 | 반도체 소자 | 2 | |
차세대 박막소자 및 회로 연구실이수연 교수 | 서울대 | 디스플레이 | 26 | |
나노소자 연구실김형준 교수 | 연세대 | 디스플레이촉매·수소·연료전지반도체 소자 | 1 | |
전자소자 연구실(EDL)김현재 교수 | 연세대 | 센서·MEMS태양전지반도체 소자 | – | |
VLSI System 연구실정성욱 교수 | 연세대 | 센서·MEMS | – | |
Advanced Electronic Device & Energy Conversion System Lab심재원 교수 | 고려대 | 반도체 소자 | – |